是否进口 :否
加工定制 :否
类型 :电子薄膜应力分布测试仪
* :国产
型号 :HFGS-6341
测量范围 :0
电子薄膜应力分布测试仪 型号:HFGS-6341 | |
产品简介 该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。 仪器基于干涉计量的全场测试原理,可实时观测面型的分布,迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置,及时淘汰早期失效产品。 产品特点 计算机自动条纹处理 测试过程全自动 曲面补偿测试原理 技术指标 样品尺寸:≤100mm (4英寸) 曲率范围:|R|≥5米 测试精度:5% 单片测量时间:3分钟/片 结果类型:面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格 图形显示功能:三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示 电 源:AC 220V±10%, 50Hz±5% 大功耗:100W 外型尺寸:(L×W×H) 285mm×680mm×450mm 重 量:36kg |