EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款*多功能的高端半导体测试设备。
本系统使用方便,只需要通过USB或者RS232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。
系统软件支持
器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。
一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下,输入所选器件系列名称和测试类型,并选择所需测试的参数,而不必具有*计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间,非常快捷方便。
概述
EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。
测试系统特点
IV曲线显示/局部放大,程序保护电流/电压,以防损坏,品种繁多的曲线,可编程的数据点对应,增加线性或对数,可编程延迟时间可减少器件发热,保存和重新导入入口程序,保存和导入之前捕获图象,曲线数据直接导入到EXCEL,曲线程序和数据自动存入EXCEL,程序保护电流/电压,以防损坏,测试范围广(19总大类,27分类)
系统规格及技术指标
主极电压: 1mV-2000V
电压分辨率: 1mV
主极电流: 0.1nA-50A
扩展电流: 100A
电流分辨率: 0.1nA
测试精度: 0.2%+2LSB
测试速度: 0.5mS/参数
工作温度: 25℃--40℃
工作湿度: 45%--80%
贮存湿度: 10%--90%
工作电压: 200v--240v
电源频率: 47HZ--63HZ
通信接口: RS232 USB
系统功耗: <150w
设备尺寸: 450mm×570mm×280mm
质 量: 35KG
测试范围
二极管DIODE,晶体管(NPN型/PNP型),J型场效应管J-FET,MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC,可控硅SCR,绝缘栅双极大功率晶体管IGBT,硅触发可控硅STS
达林顿阵列DARLINTON,光电耦合OPTO-COUPLER,继电器RELAY,稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR,光电开关OPTO-SWITCH,光电逻辑OPTO-LOGIC,金属氧化物压变电阻MOV,固态过压保护器SSOVP,压变电阻VARISTOR,双向触发二极管DIAC