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EN-2005B功率器件综合测试系统
系统特征
测试范围广（19总大类，27分类）
升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A
采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定300uS
被测器件引脚接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏
真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际偏差很大）
系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障
二极管极性自动判断功能，无需人工操作
系统概述
EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。
面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
应用领域
院所、高校、半导体器件生产厂商、
电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、
新能源汽车、轨道机车检修等
设备用途
测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等
技术指标
主极电压: 10mV-2000V
主极电流： 100nA-50A
扩展电流： 100A、500A、1000A、1300A
电压分辨率： 1mV
电流分辨率： 1nA
测试精度： 0.2%+2LSB
测试速度： 0.5mS/参数
系统功耗： <150w
质 量： 35KG
尺 寸： 450x570x280mm
通信接口： RS232 USB
工作温度： 25-40°C
测试范围
二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS
达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC
