半导体BOWMAN X射线荧光电镀膜厚仪

利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器，这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。

无论是汽车部件、卫浴器具，还是半导体支架、接插端子、金银首饰，美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是*率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维护方便，*是节省生产成本的好帮手。