x荧光美国膜厚仪

应用领域：PCB、LED、航天航海、电子电器、线路板、五金锁具、

塑胶电镀、标准件、钕铁硼、技术监督部门及科研机构。

测量镀种：装饰铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉、硬铬、化学镍、多层镍，复合镀层（如Cr/Ni/Cu）约30几种镀层基体组合。如需测量其他镀层可事先提出.

镀层底材：金属、非金属、钕铁硼等

镀层层数：单层及复合多层

测量范围：13号~92号元素（保证精度情况下，更厚镀层也可测量）

x荧光美国膜厚仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

x荧光美国膜厚仪结构紧凑、坚固*、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

联系人：舒翠 136 0256 8074

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