美国原装博曼X射线电镀膜厚仪,一款为快速且简便测量而设计的测厚仪.而且,它还十分适合于测量黄金及其他贵金属,分析金的成分重复性可达0,5 ‰。
对于镀层:不仅可以测量其成分比例,还可以测量器厚度!
可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2 ppm,对Cd为10 ppm。
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm,仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。
即使是微小的电子元器件或印刷线路板上的镀层系统也可以*地分析。
XY(Z)平台可用来自动扫描印刷线路板
可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
博曼X射线电镀膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意,为客户创造大的价值是金霖始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图.如果您有什么问题或要求,请您*联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!联系人:舒翠 136 0256 8074 0755-29371655 QQ:2735820760