BOWMAN(博曼)X射线荧光美国膜厚测试仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金
属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层,BOWMAN(博曼)X射线荧光美国膜厚测试仪
采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源
和高分辨硅-PIN-接收器置于了的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的
视频显微系统,将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测
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