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IST8900
真正一台完整而具有*“性价比”的半导体元件自动化测试系统，
能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！
特点：
☆ 可检测12种半导体元件的参数多达135个；
☆ 可单机独立操作，测试范围达2500V及50A；
☆ 具有自我校正及自我测试诊断之功能；
☆ 外接大电流机箱或高压装置，检测范围可扩展至4800A及10KV；
☆ 具有USB接口，可外接PC、打印机、数据记录器；
☆ 测试程序可储存及重复使用；
☆ 错误或损坏的元件，在未进入参数测试前，便可被自动筛除；
☆ 提供全自动好/坏判别或参数上的测量；
☆ 提供Windows PC Curve Tracer特性曲线软件（选购）；
☆ 具有机械手接口，可供大量生产测试；
☆ 任何管脚错误的连接，均可在启动时，安全快速地检测到，且自动停止测试动作；
☆ 测试程序的产生，采用填充式的引导方式；
☆ 测试光耦输出端为三极管或交直流可控硅的元件；
☆80μs~300μs脉冲测试间隔，可防止元件过热造成的数据漂移或损毁。
☆ 采用自动校准软件技术，可排除连接插件接触面、电路板上的线路或继电器接点上细微的压降问题，以避免使用昂贵而麻烦的KELVIN插座，保证MOSFET的Rds(on)精度可达±1mΩ (±0.001Ω)。
能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！
特点：
☆ 可检测12种半导体元件的参数多达135个；
☆ 可单机独立操作，测试范围达2500V及50A；
☆ 具有自我校正及自我测试诊断之功能；
☆ 外接大电流机箱或高压装置，检测范围可扩展至4800A及10KV；
☆ 具有USB接口，可外接PC、打印机、数据记录器；
☆ 测试程序可储存及重复使用；
☆ 错误或损坏的元件，在未进入参数测试前，便可被自动筛除；
☆ 提供全自动好/坏判别或参数上的测量；
☆ 提供Windows PC Curve Tracer特性曲线软件（选购）；
☆ 具有机械手接口，可供大量生产测试；
☆ 任何管脚错误的连接，均可在启动时，安全快速地检测到，且自动停止测试动作；
☆ 测试程序的产生，采用填充式的引导方式；
☆ 测试光耦输出端为三极管或交直流可控硅的元件；
☆80μs~300μs脉冲测试间隔，可防止元件过热造成的数据漂移或损毁。
☆ 采用自动校准软件技术，可排除连接插件接触面、电路板上的线路或继电器接点上细微的压降问题，以避免使用昂贵而麻烦的KELVIN插座，保证MOSFET的Rds(on)精度可达±1mΩ (±0.001Ω)。
|
元件类型 |
漏电流 |
崩溃电压 |
导通参数 |
放大倍率 |
触发参数 |
闩扣参数 |
保持参数 |
开关参数 |
|
Bipolar Transistor |
Iceo、Ices、Icev、Icbo、Iebo |
BVceo、BVces BVcev、BVcbo BVebo |
Vce(sat) Vbe(sat) |
hFE |
Vbe(on) |
|
|
ton toff |
|
MOSFET Transistor |
Idss、Igsr、Igsf、Idsv |
BVdss |
Vds(on)、Ids(on) Rds(on)、Vsd |
gFS |
Vgs(th) Vgs(on) |
|
|
ton toff |
|
IGBT |
Ices、Igsr、Igsf |
BVces |
Vce(sat)、 Ic(on)、Vf |
gFS |
Vge(th) Vge(on) |
|
|
ton toff |
|
TRIAC |
Idrm、Irrm |
BVrrm、BVdrm |
Vtm+、Vtm- |
|
Iga 1/2/3/4 Vga 1/2/3/4 |
|
Ih+、Ih- |
|
|
SCR |
Idrm、Irrm、Igko |
BVdrm、BVrrm BVgko |
Vtm |
|
Igt、Vgt |
IL |
Ih |
|
|
GTO |
Idrm、Irrm、Igrm |
|
Vtm |
|
Igt、Vgt |
IL |
Ih |
|
|
DIODE |
Ir |
BVr |
Vf、If |
|
|
|
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|
|
Zener Diode |
Ir |
BVz、BVr |
Vf |
|
|
|
|
|
|
J-FET |
Igss |
BVgss |
Idss、Rds(on) Vds(on) |
gFS |
|
Vgs(p) |
Id(p) |
|
|
Regulator |
|
|
+/-Vo、+/-Ipk +/-Isc |
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|
+/-dV |
+/-0r、+/-Ir |
|
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Optoisolator |
Irrm、Ir、Iceo Icbo、Iebo Ic(off)、Idrm |
BVceo、BVcbo BVebo |
Vf、Ic(on)、 Vce(sat)、Vtm |
CTR、hFE |
Igt |
|
Ih |
|
|
VTS |
Ir |
BVr |
Vbo、bo、dVbo |
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大功率半导体元件的测试
当功率模块老化时，其工作效能必定降低，一个应用在大功率开关上的功率元件，在其使用期限内，如能定期维护测
试，可确保其使用的良好状态，防止故障发生。
IST 8900半导体元件全自动测试系统，可以仿真元件在真正工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与
原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。
导通参数测试如：Vce(sat)、Vds(on)、Rds(on)、Vf及Vtm等，可由选购外部电流模块M2400与M4800，将IST 8900的大功率测试电流扩大至数千安培。
每个电流模块，都具有独立的供电系统，以便在测试时，提供内部电路及电池组充电之用；IST 8900可通过一个DB-25接口，连续控制电流量0~2400A或0~4800A。
可选购外部高压模块，执行关闭状态参数测试如：各项崩溃电压与漏电流测量达10KV。
|
泄漏电流测量档位 Leakage Current Measurement Range
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测试参数
Parameter |
电流档位
Current Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
||||||
|
Iceo/s/v、Icbo、
Iebo、Idss/v、 Igsr/f、Idrm、 Irrm、Igko、 Igss、Ir、 Ic(off) |
0 - 400 nA
|
0.1 nA
|
± 3%
|
0 - 2.5 KV
|
||||||
|
0 - 4 μA
|
1 nA
|
± 1%
|
0 - 2.5 KV
|
|||||||
|
0 - 40 μA
|
10 nA
|
± 1%
|
0 - 2.5 KV
|
|||||||
|
0 - 400 μA
|
0.1 nA
|
± 1%
|
0 - 2.5 KV
|
|||||||
|
0 - 4 mA
|
1 μA
|
± 1%
|
0 - 2.5 KV
|
|||||||
|
0 - 40 mA
|
10 μA
|
± 1%
|
0 - 2.0 KV
|
|||||||
|
0 - 400 mA
|
0.1 mA
|
± 1%
|
0 - 1 KV
|
|||||||
|
崩溃电压档位 Breakdown Voltage Range
|
||||||||||
|
测试参数
Parameter |
电压文件位
Voltage Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
||||||
|
BVceo/s/v、BVcbo、Vebo、BVdss、BVr、BVdrm、BVrrm、BVgss、BVz
|
0 - 30 V
|
0.05 V
|
± 1%
|
0 - 5 A
|
||||||
|
30 - 60 V
|
0.05 V
|
± 1%
|
0 - 2 A
|
|||||||
|
60 - 2500 V
|
0.3 V
|
± 2%
|
0 - 40 mA
|
|||||||
|
导通电流测量档位 On-State Current Range
|
||||||||||
|
测试参数
Parameter |
电流档位
Current Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
||||||
|
hFE、Vce(sat)、Vbe(on)、Vbe(sat)、Vds(on)、Ids、Vds、Rds(on)、Ic(on)、Vf、If、Vtm、± Vo、± Ipk、± Isc、Vbo、Ibo
|
0 - 20 mA
|
5 μA
|
±13%
|
0 - 40 V
|
||||||
|
0 - 200 mA
|
50 μA
|
± 1%
|
0 - 40 V
|
|||||||
|
0 -2 A
|
0.5 mA
|
± 1%
|
0 - 40 V
|
|||||||
|
0 - 25 A
|
6 mA
|
± 1%
|
0 - 30 V
|
|||||||
|
0-50 A
|
12mA
|
± 1%
|
0 - 20 V
|
|||||||
|
触发电流档位 Trigger Current Range
|
||||||||||
|
测试参数
Parameter |
电流档位
Current Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
测量条件
Test Condition |
||||||
|
hFE、Vgs(th)、Vbe(on)、Vgs(on)、Vge(th)、Vge(on)、Igt、Vgt、IL、Ih、Ic(on)、Igt 1/2/3/4、Vgt 1/2/3/4
|
0 - 100 μA
|
20 nA
|
±1%
|
0 - 20 V
|
||||||
|
0 - 1 mA
|
0.2 μA
|
± 1%
|
0 - 20 V
|
|||||||
|
0 -10 mA
|
2 μA
|
± 1%
|
0 - 20 V
|
|||||||
|
0 - 100 mA
|
20 μA
|
± 1%
|
0 - 20 V
|
|||||||
|
0 - 1 A
|
0.2 mA
|
± 1%
|
0 - 20 V
|
|||||||
|
0 - 20 A
|
4 mA
|
± 1%
|
0 - 20 V
|
|||||||
|
触发电压文件位Trigger Voltage Range
|
||||||
|
测试参数
Parameter |
电压文件位
Voltage Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
|||
|
Vbe(on),Vbe(sat),Vge(on), Vgs(on), Vgt
|
0 - 20 V
|
4 mV
|
± 1%
|
|||
|
开关时间 Switching Time
|
||||||
|
测试参数
Parameter |
电压文件位
Voltage Range |
分辨率
Resolution |
精度
Accuracy |
|||
|
ton、toff
|
0 - 1095 ns
连续调整 |
5 ns
|
± 1%
|
|||
|
机身规格
|
||
|
仪器
|
体积 高x深X宽
|
重量
|
|
主机
|
11.43cm x43.69cm x41.91cm
|
7.7 kg
|
|
M2400A
|
31.75cm x44.45cm x53.34cm
|
75 kg
|
|
M4800A
|
49.53cm x44.45cm x53.34cm
|
120 kg
|
|
10kV电压模块
|
12.7cm x 27.94cm x30.48cm
|
5.5 kg
|
标准配件：
● AC电源线
● 操作手册
● 二极管轴心引脚测试治具
● 测试治具，适用于TO-220、202、237、218、92
● 测试治具，适用于TO-247、247 super
● 测试治具，适用于SMD封装
选购配件：
● 通用测试夹治具(短测试线)
● 通用测试夹治具(长测试线)
● 测试插座转接器，适用于单/双光耦合装置
● 测试治具，适用于TO-3、66、204
● DB-25公头/公头接口控制导线，适用于连接外部模
块机箱
● 超弹性硅胶大功率测试线
● 夹式测试治具，适用于150mm直径圆盘封装
● AC电源线
● 操作手册
● 二极管轴心引脚测试治具
● 测试治具，适用于TO-220、202、237、218、92
● 测试治具，适用于TO-247、247 super
● 测试治具，适用于SMD封装
选购配件：
● 通用测试夹治具(短测试线)
● 通用测试夹治具(长测试线)
● 测试插座转接器，适用于单/双光耦合装置
● 测试治具，适用于TO-3、66、204
● DB-25公头/公头接口控制导线，适用于连接外部模
块机箱
● 超弹性硅胶大功率测试线
● 夹式测试治具，适用于150mm直径圆盘封装
