• 所有金属基材上的非破坏性测量
• 多种图形显示选项
• 菜单控制界面,更强的数据和配置管理
• 用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件
• 测量厚度高达35mm的各种*探头
• SIDSP®技术提升精确度和重现性
MiniTest 7400 主机技术参数
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公司基本资料信息
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• 所有金属基材上的非破坏性测量
• 多种图形显示选项
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• 用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件
• 测量厚度高达35mm的各种*探头
• SIDSP®技术提升精确度和重现性
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